分體式射頻導納物位控制器,分離式射頻導納物位控制器,射頻導納物位控制器,高溫射頻導納物位計,遼陽(yáng)儀表射頻導納

l 校準簡(jiǎn)單快捷、安裝方便、外形美觀(guān)
l 產(chǎn)品性能穩定
l 防粘附（掛料）
l 各種型號通用性強，適用性廣泛
l 可與PLC可編程控制器或DCS集散控制系統配套使用，實(shí)現工藝流程的自動(dòng)檢測和自動(dòng)控制

    分離式射頻導納物位控制器/射頻導納物位控制器/分體式射頻導納物位控制器是利用高頻技術(shù)，由電子線(xiàn)路產(chǎn)生一個(gè)小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來(lái)自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線(xiàn)路；由于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線(xiàn)路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進(jìn)行處理后改變繼電器的輸出狀態(tài)。它是在原電容測量的基礎上改進(jìn)射頻導納測量技術(shù)，代表了當今物位測量的新水平。

   分體式射頻導納物位控制器是一種從電容式物位測量技術(shù)發(fā)展起來(lái)的，防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，射頻導納中的導納的含義為電學(xué)中阻抗的倒數，它由電阻性成分、電容性成分、電感性成分綜合而成。而射頻即發(fā)射高頻無(wú)線(xiàn)電波，所以射頻導納物位控制技術(shù)是通過(guò)用高頻無(wú)線(xiàn)電波測量被測介質(zhì)導納來(lái)實(shí)現物位測量。